《口腔医学》
青少年下颌后缩患者颅颌面硬组织结构特征的Delaire头影测量初步分析
发表时间：2010-04-13 浏览次数：507次
引 用：
关 键 词：
安氏Ⅱ类错; 下颌后缩; Delaire头影测量法
作者：
周洁 宋锦璘 陈梦苇 王涛 邓锋
作者单位：
出版年份：
0
期刊页数：
收录者：
知网,万方
摘要：
目的 采用Delaire头影测量法分析重庆地区青少年下颌后缩患者颅颌面硬组织特征及其补偿机制，为进一步诊断、治疗设计及预后分析提供参考。方法 选取重庆地区11～14岁下颌后缩患者56例及正常青少年40例为研究对象，拍摄头颅侧位片，采用传统头影测量法和Delaire头影测量法分析其颅颌面硬组织结构特征。结果 传统头影测量法分析发现，与正常相比，下颌后缩患者∠SNB、Co-Go、Co-Pog、U1-L1减小，∠ANB、∠SN-MP、L1-MP增大，∠SNA、Go-Pog无统计学差异。Delaire头影测量
