44例小儿热性惊厥的脑电图分析
发表时间：2011-11-16 浏览次数：443次
作者：赵剑,高峰 作者单位：大英县人民医院，四川 大英 629300
【摘要】目的：探讨脑电图(EEG)检查在热性惊厥患儿预后评估中的价值。方法：结合44例热性惊厥患儿的临床及EEG资料进行回顾性分析。结果：患儿的首次发作年龄、发作次数、发作时的临床表现、家族史及既往史对EEG征象有较大的影响。首次发作年龄越小，异常率越低;热性惊厥患儿约25%有第2次惊厥发作，约40%有第3次或更多次的发作;EEG检查中3次及3次以上发作的18例患儿有异常EEG征象的达50%，其中4例转为癫痫。结论：热性惊厥及癫痫家族史、是否呈局限性发作、首次发作年龄、发作次数是判定其转归的重要因素。
【关键词】 热性惊厥 脑电图 复发 预后
热性惊厥是小儿常见急症，在我国儿童中约有2%～4%曾发生过热性惊厥，反复出现的热性惊厥可能会对患儿的大脑及心理造成不可逆转的伤害，给患儿及家属以后的生活及生存质量带来重要影响。现将我院2000年至2005年的临床资料齐全的确诊为热性惊厥患儿的临床资料结合脑电图(EEG)检查进行回顾性分析，以探讨EEG检查在热性惊厥预后判定中的价值。
1 资料与方法
1.1 临床资料 本组资料共44例，年龄为9个月～9岁。其中男孩26例(59%)，女孩18例(41%);9个月～3岁27例(61%)，4岁～7岁15例(34%)，7岁以上共2例(5%);其中临床首次发作者15例次，临床发作2次者11例次，临床发作3次及以上者18例次。有热性惊厥家族史12例，癫痫家族史3例。有7例反复进行了2次及2次以上检查，均作1例处理，以末次检察结果为主。所有患儿的EEG检查均在发作后1 d～14 d内进行。
1.2 检查方法 采用ZN 8000视频脑电图/脑电地形图仪。4岁～9岁按国际标准10～20系统安放电极，常规作睁闭眼试验、过度换气试验及闪光刺激试验;4岁以下采用药物10%水合氯醛口服催眠后进行睡眠记录(剂量：1 ml/岁～2 ml/岁)。
1.3 诊断标准 热性惊厥诊断标准参照1983年全国小儿神经学术会议关于高热惊厥的诊断标准[1];EEG诊断标准参照谭郁玲主编的临床脑电图与脑电地形图学[2]。
2 结果
44例热性惊厥患儿的发作年龄、次数与脑电图结果分析。
注：*EEG轻度异常标准为仅表现为与该年龄不符的EEG征象;**EEG中度异常标准为EEG征象表现为棘波，棘慢波综合，慢波阵发，局限性改变等。
发作时的临床表现：10 min内的对称性发作，发作后无症状，发作持续15 min以上，可有对称，发作后可有意识障碍等，发作持续15 min以上，不对称，发作后可有意识障碍等。
分析显示：患儿的首次发作年龄、发作次数、发作时的临床表现、家族史及既往史对EEG征象有较大的影响，是热性惊厥的复发及预后判定的重要因素。对多次发作的9例EEG异常患儿跟踪随访发现，4例曾出现无热抽搐，进行正规抗痫治疗后，发作得以控制。
3 讨论
热性惊厥是小儿惊厥最常见的原因，也叫高热惊厥，在婴幼儿期多见，好发年龄为6个月～5岁，以9个月～20个月为高峰，其发病率约为2%～4%，在欧美约为1.9%～3.6%，日本为10%[3]。根据发作类型分两型：简单型及复杂型。其机制可能是机体发热增加了脑对氧的需求，从而加重了脑的氧化作用机制，使脑神经元兴奋阈值发生改变，并出现异常同步放电，引起惊厥。
在第1次发生热性惊厥后的数月或数年内遇有发热又出现惊厥称为热性惊厥复发。有资料统计约33%～77%的患儿在以后会出现复发。本组资料的热性惊厥患儿中约25%有第2次惊厥发作，其中的40%有第3次或更多次的发作。29例(65%)复发患儿中首次发病年龄在3岁以下者为22例，3岁以上者7例;多次发作的患儿共18例。表明首次发病年龄越小，复发率越高，初次发作在1岁以内的患儿复发率最高;发生惊厥次数越多、持续时间越长，越易复发;属复杂性高热惊厥，有癫痫家族史者，复发机会更多。
在本组资料中如表显示首次发病年龄越小，越易发作，EEG征象异常率越低;年龄越大，越不易发作，但EEG征象异常率越大，在该年龄组可达51%。这可能与小儿大脑发育不成熟，对高热的耐受反应不一致相关。年龄越小，大脑对高热的耐受性越差，越易出现惊厥，随着年龄的增长，大脑对高热的耐受性越好，出现高热惊厥则多提示患儿本身的大脑发育不成熟或有某种潜在的病灶。还应注意的是检查时的技术问题，因3岁以下患儿睡眠EEG异常与否的判定有一定的难度，这可能会影响诊断。
在本组资料中以发作次数为条件的分析显示：2次及以下发作的患儿均未发现有转为癫痫的，仅表现为EEG征象与年龄不符, 但3次及3次以上次数发作的18例患儿有中度异常EEG征象的达50%，其中4例转为癫痫。这说明反复出现的惊厥延长患儿的病程，反复出现的惊厥，致大脑中枢神经系统多次出现严重的损伤，两者相互作用，以致EEG征象异常率较高、较严重。
有热性惊厥及癫痫家族史的15例患儿中有7例异常，这说明家族史是热性惊厥复发及其转归的危险因素。在本组资料中所有正常EEG征象的患儿，均表现为10 min内的对称性发作，发作后无症状;部分异常EEG征象的患儿则表现为发作持续15 min以上，可(不)对称，发作后可有(无)意识障碍等。表明热性惊厥患儿发作时的临床表现对判定复发及转归有重要的价值，但是很多家属不能很好地说明，这需要医师耐心询问。
总之，热性惊厥的发生是小儿大脑发育不成熟或其脑功能异常的表现，它既能引起暂时性脑功能障碍，又可能造成不可逆的脑损害，如出现智力低下、癫痫、局限性脑功能障碍等，导致异常EEG征象的出现。EEG征象的异常率与患儿的年龄、发作次数、发作时的临床表现等因素相关，并对热性惊厥发作后的转归及预后判定有重要的意义。因此对EEG检查显示为异常EEG征象的患儿，更应在发热间歇期多次复查，以早期明确其转归，提高患儿以后的生活及生存质量。
【参考文献】
[1] 中华儿科杂志编委会.关于高热惊厥诊断和治疗的建议[J].中华儿科杂志,1984,2(22):101.
[2] 谭郁玲.临床脑电图与脑电地形图学[M].第1版.北京:人民卫生出版社,1999：2640.
[3] 福山幸夫(日),张书香.小儿实用脑电图学[M].第2版.北京:人民卫生出版社,1987：116120.
